DLRO10和DLRO10X 数字低电阻微欧表

确保C1和C2引线与测试样品的接触正常。此外，您可以使用万用表检查这两根引线的连通性，以排除任何潜在的损坏。如果这两个建议都失败了，很可能是因为电流端子C1和C2已经断开了与电源板的连接，这种情况下，您需要将仪器送修。

这通常是由于电池因正常老化而失去电荷或端子线松动导致的。您可以根据用户手册中的说明现场更换电池。如果这不能解决问题，可能是由于接线问题，需要将仪器送回Megger的维修中心。

非易失性存储器电池随时间自然老化而失去电荷。仅更换电池是不够的，因为所有校准设置都将丢失。因此，您需要将 DLRO10 送回 Megger 维修中心进行重新校准。

校准常数已丢失。DLRO 仍然可以工作，但我们不能再保证其准确性。您需要将 DLRO10X 送回进行重新校准。

在测量过程中发生了错误，例如，其中一个探针失去了接触。解决错误并重新进行测量。

现场读数对于理解电气系统的状态至关重要。您可以根据系统的数据表或供应商的铭牌大致了解预期测量水平。利用这些信息作为基准，您可以识别和分析差异。您还可以将其与类似设备上收集的数据进行比较。设备的数据表或铭牌应包括其操作相关的电气数据。您可以使用电路的电压、电流和功率需求来估算电阻，以及操作规范来确定设备允许的变化（例如，对于电池连接带，连接电阻会随时间变化）。各国标准提供了周期性测试周期的指导。设备的温度将对预期读数产生强烈影响。例如，对于热电机的数据采集将不同于安装电机时进行的冷读数。随着电机升温，电阻读数会上升。铜绕组的电阻根据铜作为材料的基本性质对温度变化做出响应。使用电机的铭牌数据，您可以利用铜绕组的表格1或基于此的方程估算由于温度变化而导致的电阻预期百分比变化。不同材料将具有不同的温度系数。因此，温度校正方程将因所测试的材料而异。

测试结束时的电阻 / 测试开始时的电阻 = (234.5 + 测试结束时的温度) / (234.5 + 测试开始时的温度)

除了将低电阻欧姆表测量结果与预设标准（即现场测试）进行比较外，还应保存并跟踪过去和未来的测量结果。将测量数据记录在标准表格上，并将数据注册在中央数据库中，将提高测试操作的效率。您可以查阅以前的测试数据，然后确定现场条件。发展读数的趋势有助于更好地预测接头、焊缝、连接或其他组件何时会变得不安全，并进行必要的维修。请记住，退化可能是一个缓慢的过程。电气设备面临机械操作或热循环，可能会使引线、接触和焊接连接过度。这些组件还可能会受到来自大气或人为情况的化学攻击。定期测试和记录结果将提供一个数值数据库，可用于开发电阻趋势。

注意：进行周期性测量时，应始终将探针连接到测试样品的同一位置，以确保相似的测试条件。